多角度粒度分析及高灵敏度zeta电位仪

仪器名称：多角度粒度分析及高灵敏度zeta电位仪

仪器型号：Omni

生产产家：美国布鲁克海文仪器公司

功能特点：纳米粒度仪通过测量动态光散射信号获得颗粒尺寸信息，可以同时获得纳米颗粒尺寸及其统计分布。Zeta电势的测量也是通过测量在电场中定向移动颗粒的散射光获得的。

性能指标：
适用粒度范围：粒度：0.3nm～10μm（与折射率，浓度，散射角有关）；

Zeta电位：1nm～100μm

样品浓度范围：0.1ppm至40%w/v(与颗粒大小和折射率有关)

典型精度：粒度：1％；Zeta电位：3％

样品类型：蛋白、纳米粒子、聚合物及分散于水或其他溶剂中的胶体样品

样品体积：粒度：1～3ml；Zeta电位：1.5 ml

分子量测定范围：342～2×107Dalton

Zeta电位范围：-500mV～500mV

电导率范围：0～30S/m

电泳迁移率范围：10-11 ～ 10-7 m2 /V.s

电场强度：0 ～ 60 kV/m

电极：永久性开放式电极，电极材料纯钯；耐腐蚀电极（选件）；微量电极（选件）

温控范围与精度：-5℃～110℃，±0.1℃。

pH测量范围：1-14

激光源：35mW光泵半导体激光器

检测器：高灵敏雪崩型二极管（APD）

相关器：4×522个物理通道，4×1011个线性通道，采用动态采样时间及动态延迟时间分配

自动趋势分析：对时间、温度及其他参数

散射角：15°、90°与173°

应用范围：本设备主用应用于纳米材料相关研究，食品工业、油墨、 涂料、生物、医药等广泛领域。例如，金属纳米颗粒，陶瓷颗粒，炭黑，制药，化妆品，聚合物，蛋白质，染料等广泛领域。